AT210涂镀层测厚仪

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AT210涂镀层测厚仪

AT210涂层测厚仪概述

AT210镀层测厚仪|涂镀层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量;既可用于实验室,也可用于工程现场;广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业必备的仪器。

AT210涂层测厚仪符合以下标准:

  • GB/T4956-1985 磁性方法
  • GB/T4957-1985 涡流方法
  • JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
  • JJG889-95 《磁阻法测厚仪》
  • JJG818-93 《电涡流式测厚仪》

AT210涂层测厚仪功能特点

  • 采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量
    1. 磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)
    2. 非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
  • 易于操作的菜单设计
  • 连续和单次测量方式
  • 直接工作模式和组工作模式
  • 可统计并显示:平均值、最大值、最小值、标准方差、统计数
  • 非常方便的进行一点或两点校准
  • 可保存320个测量数据供随时下载至计算机处理
  • 实时删除测量数据和组数据
  • 高低限报警
  • 低电和错误提示
  • USB传输数据至计算机分析统计
  • 可设置的自动关机功能

AT210涂层测厚仪技术参数

  • 测头类型:F | N
  • 测量原理:磁感应 | 电涡流
  • 测量范围:0-1250um | 0-1250um 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力:
    1. 0-50um:0.1um
    2. 50-850um:1um
    3. 850-1250um:0.01mm
  • 探头连接方式:一体化
  • 示值误差:F | N
    1. 0-850um:±[3%H+1um]
    2. 850-1250um:±5%H
    1. 0-850um:±[3%H+1.5um]
    2. 850-1250um:±5%H
  • 测量条件:F | N
    1. 最小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9
    2. 基体最小面积的直径(mm):ф7
    3. 最小临界厚度(mm):0.5
    1. 最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
    2. 基体最小面积的直径(mm):ф5
    3. 最小临界厚度(mm):0.3
  • 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
  • 统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 上下限设置:有
  • 存储能力:320个测量值
  • 连接计算机:可连接电脑
  • 关机方式:手动和自动
  • 电源:二节AAA型(7号)1.5V电池
  • 外形尺寸:116mm×55mm×26mm
  • 重量:120g

AT210涂层测厚仪基本配置

  • AT210涂层测厚仪主机
  • 铁基体和铝基体
  • 标准片一套
  • 二节AA型(5号)1.5V电池
  • 仪器保护套
  • 使用说明书

涂层测厚仪可选附件