涂层测厚仪探头

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F1探头是磁性法测量的通用标准探头,测量范围0-1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。

涂层测厚仪F1探头

涂层测厚仪F1探头

  • 工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um
  • 测量范围:0-1250um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+1]um
    2. 两点校准:±[(1~3)%H+1]um
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径:凸1.5mm
    2. 基体最小面积的直径:Ф7mm
    3. 最小临界厚度:0.5mm
  • 探头尺寸:Ф12X47mm

N1探头是涡流法测量的通用标准探头,测量范围0-1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。

涂层测厚仪N1探头

涂层测厚仪N1探头

  • 工作原理:电涡流 | 分辨力:0.1um
  • 测量范围:0-1250 | 铜上镀铬0-40um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+1]um
    2. 两点校准:±[(1~3)%H+1]um
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径:凸3mm
    2. 基体最小面积的直径:Ф5mm
    3. 最小临界厚度:0.3mm
  • 探头尺寸:Ф15X73mm

TT260选配F400探头,主要用于较薄厚度的涂层测量,可获得更精确的测量结果和更高的重复性,另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时,F400探头也是最佳的选择。

涂层测厚仪F400探头

涂层测厚仪F400探头

  • 工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um
  • 测量范围:0-400um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+1]um
    2. 两点校准:±[(1~3)%H+0.7]um
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径:凸1mm
    2. 基体最小面积的直径:Ф3mm
    3. 最小临界厚度:0.2mm
  • 探头尺寸:Ф12X55mm

TT260选配F10探头,测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um,主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片,用于校准仪器。

涂层测厚仪F10探头

涂层测厚仪F10探头

  • 工作原理:磁感应 | 分辨力:10um
  • 测量范围:0-10000um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+10]um
    2. 两点校准:±[(1~3)%H+10]um
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径:凸10mm
    2. 基体最小面积的直径:Ф40mm
    3. 最小临界厚度:2mm
  • 探头尺寸:Ф27X47mm

TT260选配CN02探头,主要用于测量线路板上的铜箔厚度,检测范围在10-200um之间。

涂层测厚仪CN02探头

涂层测厚仪CN02探头

  • 工作原理:电涡流 | 分辨力:1um
  • 测量范围:10-200um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+1]um
    2. 两点校准:—
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径:平直
    2. 基体最小面积的直径:Ф7mm
    3. 最小临界厚度:无限制
  • 探头尺寸:Ф16X67mm

TT260选配F1/90探头,主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中。夹层和细缝中的涂层厚度测量也是它的拿手好戏。

涂层测厚仪F1|90探头

涂层测厚仪F1|90探头

  • 工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um
  • 测量范围:0-1250um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+1]um
    2. 两点校准:±[(1~3)%H+1]um
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径:平直
    2. 基体最小面积的直径:Ф7mm
    3. 最小临界厚度:0.5mm
  • 探头尺寸:Ф7.5X11X200mm